Elementar- und Spektralanalytik
Spektroskopische Prüfungen
Funkenspektroskopie
Die Funkenspektralanalyse verdampft mit einem Argon-Plasma geringe Materialmengen von einem Probekörper und regt diese zum Leuchten an. Durch Spektralzerlegung wird die relative Intensität bei elementspezifischen Wellenlängen ermittelt und daraus die elementare chemische Zusammensetzung errechnet.
Dieses Verfahren ist für alle gängigen Legierungen genormt (z. B. ASTM E415 für un- und niedriglegierten Stahl, ASTM E1086 für hochlegierten Stahl, …)
Bei der ZWT GmbH können Proben auf Eisenbasis und Aluminiumbasis analysiert werden.
Röntgenfluoreszenzanalyse
Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) wird eine Probe mithilfe primärer Röntgenstrahlung dazu angeregt, ihrerseits Fluoreszenzröntgenstrahlung abzugeben. Aus dem Spektrum dieser emittierten Strahlung können Rückschlüsse auf die Zusammensetzung der Probe gezogen werden.
Mit dem von der ZWT GmbH eingesetzte RFA-Gerät können neben der Materialanalyse von Proben und auch Dickenmessungen an Metallischen Beschichtungen durchgeführt werden.
Rasterelektronenmikroskop REM / EDX
Bei der Rasterelektronenmikroskopie (REM) werden Elektronenstrahlen verwendet, um Informationen aus einer Probe im Nanobereich zu erhalten.
Hauptsächlich werden die sogenannten Rückstreu- (BSE) und Sekundärelektronen (SE) erfasst, um so ein Graustufenbild mit einer sehr hohen Vergrößerungsmöglichkeit zu generieren. Zusätzlich entstehen bei er Elektronen-Materie-Wechselwirkung jedoch auch andere Produkte wie die Röntgenstrahlung. Diese werden mit der energiedispersiven Röntgenanalyse (EDX oder EDS) detektiert und können zur Bestimmung der vorliegenden Elementen herangezogen werden.
Folgende Prüfvarianten werden von der ZWT GmbH u.a. angeboten:
- Analyse von metallischen Legierungen
- Partikelanalysen
- Bestimmung von Glührückständen
- Bestimmung anorganischer Bestanteile in Polymeren
